Semestr letni 2009/10
Semestr zimowy 2009/10
Systemy pomiarowo-kontrolne MBMN04026
Treści programowe:
Wykład:
Struktura i organizacja systemów pomiarowych. Elementy budowy systemów: mikroprocesory, moduły pomiarowe (komparatory, przetworniki, układy licznikowe), interfejsy. Próbkowanie, kwantowanie i przetwarzanie sygnałów. Charakterystyki statyczne i dynamiczne przetworników, błędy statyczne i dynamiczne. Współrzędnościowa technika pomiarowa, istota pomiarów współrzędnościowych, budowa współrzędnościowej maszyny pomiarowej.
Ćwiczenia laboratoryjne:
Pomiary makro- i mikrogeometrii części maszyn za pomocą komputerowych systemów pomiarowych.
Efekty kształcenia: student opisuje zasady działania wybranych przetworników pomiarowych, strukturę i organizację systemu pomiarowego; zna funkcje bloków w systemie; zna istotę pomiarów współrzędnościowych i budowę współrzędnościowej maszyny pomiarowej.
Rodzaj przedmiotu
Koordynatorzy przedmiotu
Literatura
a) podstawowa:
1. Winiecki W. (1997), Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
2. Jakubiec W., Malinowski J. (2004), Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa.
3. Ratajczyk E. (2005), Współrzędnościowa technika pomiarowa. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
4. Instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych.
b) uzupełniająca:
1. Barzykowski J. (2004), Współczesna metrologia. WNT, Warszawa.