Semestr letni 2009/10
Semestr letni 2010/11
Semestr zimowy 2010/11
Semestr zimowy 2011/12
Systemy pomiarowo-kontrolne MB102
Treści programowe:
Struktura i organizacja systemów pomiarowych. Sygnały pomiarowe (analogowe i cyfrowe). Elementy budowy systemów: mikroprocesory, przetworniki pomiarowe, komparatory, układy licznikowe. Charakterystyki statyczne i dynamiczne przetworników pomiarowych, błędy statyczne i dynamiczne. Przetwarzanie analogowe i cyfrowe (próbkowanie, kwantowanie). Współrzędnościowa technika pomiarowa: istota pomiarów współrzędnościowych, budowa współrzędnościowej maszyny pomiarowej.
Ćwiczenia laboratoryjne: Pomiary makro- i mikrogeometrii części maszyn za pomocą komputerowych systemów pomiarowych.
Efekty kształcenia: student opisuje zasady działania wybranych przetworników pomiarowych, strukturę i organizację systemu pomiarowego, zna funkcje bloków w systemie, zna istotę pomiarów współrzędnościowych i budowę współrzędnościowej maszyny pomiarowej
Rodzaj przedmiotu
Koordynatorzy przedmiotu
Literatura
a) podstawowa:
1. Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
2. Jakubiec W., Malinowski J. (2004), Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa.
3. Ratajczyk E. (2005), Współrzędnościowa technika pomiarowa. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
4. Instrukcje do ćwiczeń laboratoryjnych.
b) uzupełniająca:
1. Barzykowski J. (2004), Współczesna metrologia. WNT, Warszawa.