Semestr letni 2010/11
Semestr letni 2011/12
Semestr letni 2012/13
Metrologia i systemy pomiarowe MARN04030A
Treści programowe:
Wykład:
- metrologia wielkości geometrycznych: błędy systematyczne w pomiarach bezpośrednich i pośrednich, podstawy teorii błędów przypadkowych, praktyczne metody opracowania wyników pomiarów,
- analiza wymiarów tolerowanych: układ tolerancji i pasowań, analiza wymiarowa konstrukcji, łańcuchy wymiarowe i ich rozwiązywanie,
- struktura i organizacja systemów pomiarowych, sygnały w systemach pomiarowych, próbkowanie i kwantowanie sygnałów, przetwarzanie A/C, przetworniki pomiarowe, wpółrzędnościowa technika pomiarowa.
Laboratorium:
pomiary promieni łuków, kątów stożków i klinów, gwintów, kół zębatych i chropowatości powierzchni.
Efekty kształcenia:
student stosuje metody rachunku błędów, wykonuje obliczenia na wymiarach tolerowanych, opisuje strukturę i organizację systemu pomiarowego, zna funkcje bloków w systemie, zna istotę pomiarów współrzędnościowych i budowę współrzędnościowej maszyny pomiarowej
Rodzaj przedmiotu
Koordynatorzy przedmiotu
Literatura
a) podstawowa:
1. Jakubiec W., Malinowski J. (2004), Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa.
2. Jezierski J. (1999), Analiza tolerancji i niedokładności pomiarów w budowie maszyn. WNT, Warszawa.
3. Humienny Z. (2004), Specyfikacje geometrii wyrobów. WNT, Warszawa.
4. Hagel R., Zakrzewski J. (1984), Miernictwo dynamiczne. WNT, Warszawa.5. Winiecki W. (1997), Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa.
b) uzupełniająca:
1.Barzykowski J. (2004), Współczesna metrologia. WNT, Warszawa.