Summer Semester 2009/10
Summer Semester 2010/11
Summer Semester 2011/12
Optoelectronic Metrology TS2B101104
Course content: Radiation power measurements. Spectral methods and instruments. Application of diffraction and interference in optoelectronic measurement. Application of polarization state analysis in optoelectronic measurements. Specialized measurements in fiberoptic networks.
Learning outcomes: Acquaintance of chosen measurement methods, structure of simple measuring stands and analysis of measurement results. Skill of maintaining of selected measuring instruments.
(in Polish) Rodzaj przedmiotu
Course coordinators
Bibliography
a) basic references:
1. Perlicki K. „Pomiary w optycznych systemach światłowodowych”, WKŁ, Warszawa 2002
2. Bielecki Z., Rogalski A. „Detekcja sygnałów optycznych”, WNT, Warszawa, 2001
3. Patorski K., Kujawińska M., Sałbut L. „Interferometria laserowa z automatyczną analizą obrazu”, Oficyna Wydawnicza PW, Warszawa, 2005
b) supplementary references:
1. Mroczka J. „Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej”, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław, 2008